အိမ် > သတင်း > စက်မှုသတင်း

Semiconductor Processing တွင် Oxidation

2024-09-11

တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်းထုတ်လုပ်ခြင်းတွင် ကျယ်ပြန့်သော ဓာတ်ပြုဓာတုပစ္စည်းများသည် လုပ်ငန်းစဉ်အမျိုးမျိုးတွင် ပါဝင်ပါသည်။ ဤအရာဝတ္ထုများ၏ အပြန်အလှန်ဆက်သွယ်မှုသည် အထူးသဖြင့် တစ်ခုနှင့်တစ်ခု ထိတွေ့သောအခါတွင် ရှော့ဆားကစ်များကဲ့သို့သော ပြဿနာများကို ဖြစ်ပေါ်စေနိုင်သည်။ Oxidation လုပ်ငန်းစဉ်များသည် မတူညီသော ဓာတုပစ္စည်းများကြားတွင် အတားအဆီးတစ်ခုအဖြစ် လုပ်ဆောင်ပေးသည့် wafer ပေါ်တွင် အကာအကွယ်အလွှာတစ်ခု ဖန်တီးခြင်းဖြင့် အဆိုပါပြဿနာများကို ကာကွယ်ရာတွင် အရေးကြီးသောအခန်းကဏ္ဍမှ ပါဝင်ပါသည်။


ဓာတ်တိုးခြင်း၏အဓိကပန်းတိုင်တစ်ခုမှာ wafer ၏မျက်နှာပြင်ပေါ်တွင် ဆီလီကွန်ဒိုင်အောက်ဆိုဒ် (SiO2) အလွှာတစ်ခုဖွဲ့စည်းရန်ဖြစ်သည်။ ဖန်ဖလင်အဖြစ် မကြာခဏရည်ညွှန်းလေ့ရှိသော ဤ SiO2 အလွှာသည် အခြားဓာတုပစ္စည်းများ၏ ထိုးဖောက်ဝင်ရောက်မှုကို လွန်စွာတည်ငြိမ်ပြီး ခံနိုင်ရည်ရှိသည်။ ၎င်းသည် ဆားကစ်များကြားရှိ လျှပ်စစ်စီးကြောင်းများ စီးဆင်းမှုကိုလည်း တားဆီးပေးကာ semiconductor ကိရိယာသည် ကောင်းမွန်စွာ လုပ်ဆောင်နိုင်စေပါသည်။ ဥပမာအားဖြင့်၊ MOSFETs (metal-oxide-semiconductor field-effect transistors) တွင် gate နှင့် current channel ကို gate oxide ဟုခေါ်သော ပါးလွှာသော အောက်ဆိုဒ်အလွှာဖြင့် သီးခြားခွဲထားသည်။ ဤအောက်ဆိုဒ်အလွှာသည် ဂိတ်ပေါက်နှင့် ချန်နယ်ကြားတွင် တိုက်ရိုက်ထိတွေ့မှုမရှိဘဲ လျှပ်စီးကြောင်းစီးဆင်းမှုကို ထိန်းချုပ်ရန်အတွက် မရှိမဖြစ်လိုအပ်ပါသည်။


ဆီမီးကွန်ဒတ်တာ လုပ်ငန်းစဉ် အစီအစဥ်


Oxidation လုပ်ငန်းစဉ် အမျိုးအစားများ


Wet Oxidation ၊


စိုစွတ်သော ဓာတ်တိုးခြင်းတွင် wafer ကို အပူချိန်မြင့်သော ရေနွေးငွေ့ (H2O) နှင့် ထိတွေ့ခြင်း ပါဝင်သည်။ ဤနည်းလမ်းသည် ၎င်း၏ လျင်မြန်သော ဓာတ်တိုးနှုန်းဖြင့် သွင်ပြင်လက္ခဏာဖြစ်ပြီး အချိန်တိုအတွင်း ပိုထူသော အောက်ဆိုဒ်အလွှာ လိုအပ်သည့် အသုံးချမှုများအတွက် စံပြဖြစ်စေပါသည်။ H2O သည် ဓာတ်တိုးဖြစ်စဉ်များတွင် အသုံးပြုလေ့ရှိသော အခြားဓာတ်ငွေ့များထက် သေးငယ်သော မော်လီကျူးဒြပ်ထု ဖြစ်သောကြောင့် ရေမော်လီကျူးများ ပါဝင်မှုသည် ဓာတ်တိုးမှုကို ပိုမိုမြန်ဆန်စေသည်။


သို့သော်၊ စိုစွတ်သောဓာတ်တိုးခြင်းသည် မြန်ဆန်သော်လည်း၊ ၎င်းတွင် ကန့်သတ်ချက်များရှိသည်။ စိုစွတ်သော ဓာတ်တိုးခြင်းဖြင့် ထွက်လာသော အောက်ဆိုဒ်သည် အခြားနည်းလမ်းများနှင့် နှိုင်းယှဉ်ပါက တူညီမှုနှင့် သိပ်သည်းဆ နည်းပါးပါသည်။ ထို့အပြင်၊ လုပ်ငန်းစဉ်သည် ဟိုက်ဒရိုဂျင် (H2) ကဲ့သို့သော ရလဒ်များကို ထုတ်ပေးပြီး တစ်ခါတစ်ရံ ဆီမီးကွန်ဒတ်တာ ထုတ်လုပ်ခြင်းလုပ်ငန်းစဉ်တွင် နောက်ဆက်တွဲအဆင့်များကို အနှောင့်အယှက်ပေးနိုင်သည်။ ဤအားနည်းချက်များရှိနေသော်လည်း၊ စိုစွတ်သောဓာတ်တိုးခြင်းသည် ပိုထူသောအောက်ဆိုဒ်အလွှာများထုတ်လုပ်ရန်အတွက် တွင်ကျယ်စွာအသုံးပြုသည့်နည်းလမ်းတစ်ခုအဖြစ် ကျန်ရှိနေပါသည်။


ခြောက်သွေ့ Oxidation


ခြောက်သွေ့သောဓာတ်တိုးခြင်းသည် အောက်ဆိုဒ်အလွှာကိုဖွဲ့စည်းရန် မကြာခဏ နိုက်ထရိုဂျင် (N2) နှင့် ပေါင်းစပ်ထားသော အပူချိန်မြင့် အောက်ဆီဂျင် (O2) ကို အသုံးပြုသည်။ H2O နှင့် နှိုင်းယှဉ်ပါက O2 ၏ မော်လီကျူးဒြပ်ထု ပိုမိုများပြားခြင်းကြောင့် ဤဖြစ်စဉ်တွင် ဓာတ်တိုးနှုန်းသည် စိုစွတ်သော ဓာတ်တိုးမှုနှင့် နှိုင်းယှဉ်ပါက ပိုမိုနှေးကွေးပါသည်။ သို့သော်၊ ခြောက်သွေ့သောဓာတ်တိုးခြင်းဖြင့် ဖွဲ့စည်းထားသော အောက်ဆိုဒ်အလွှာသည် ပိုမိုတူညီပြီး ပိုသိပ်သည်းကာ ပိုမိုပါးလွှာသော်လည်း အရည်အသွေးမြင့် အောက်ဆိုဒ်အလွှာလိုအပ်သည့် အသုံးချမှုများအတွက် စံပြဖြစ်စေသည်။


ခြောက်သွေ့သောဓာတ်တိုးခြင်း၏ အဓိကအားသာချက်မှာ ဟိုက်ဒရိုဂျင်ကဲ့သို့ အကျိုးကျေးဇူးများမရှိခြင်းဖြစ်ပြီး ဆီမီးကွန်ဒတ်တာထုတ်လုပ်ခြင်း၏ အခြားအဆင့်များတွင် အနှောင့်အယှက်ဖြစ်နိုင်ခြေနည်းပါးသည့် သန့်စင်သည့်လုပ်ငန်းစဉ်ကို သေချာစေသည်။ ဤနည်းလမ်းသည် MOSFET များအတွက် gate oxides များကဲ့သို့သော အောက်ဆိုဒ်၏အထူနှင့် အရည်အသွေးကို တိကျစွာထိန်းချုပ်ရန်လိုအပ်သော စက်ပစ္စည်းများတွင် အသုံးပြုသည့် ပါးလွှာသောအောက်ဆိုဒ်အလွှာများအတွက် အထူးသင့်လျော်ပါသည်။


Free Radical Oxidation ၊


ဖရီးရယ်ဒီကယ် ဓာတ်တိုးနည်းသည် အပူချိန်မြင့်မားသော အောက်ဆီဂျင် (O2) နှင့် ဟိုက်ဒရိုဂျင် (H2) မော်လီကျူးများကို အသုံးပြုပြီး အလွန်တုံ့ပြန်မှုရှိသော ဓာတုပတ်ဝန်းကျင်ကို ဖန်တီးသည်။ ဤလုပ်ငန်းစဉ်သည် ဓာတ်တိုးနှုန်း နှေးကွေးသော်လည်း ထွက်ပေါ်လာသော အောက်ဆိုဒ်အလွှာသည် ထူးခြားသောတူညီမှုနှင့် သိပ်သည်းဆရှိသည်။ ဖြစ်စဉ်တွင်ပါဝင်သည့် အပူချိန်မြင့်မားခြင်းသည် ဓာတ်တိုးမှုကို လွယ်ကူချောမွေ့စေသည့် ဓာတ်ပြုမှုမြင့်မားသော ဓာတုမျိုးစိတ်များဖြစ်သော ဖရီးရယ်ဒီကယ်များ ဖြစ်ပေါ်လာစေသည်။


ဖရီးရယ်ဒီကယ်ဓာတ်တိုးခြင်း၏ အဓိကအကျိုးကျေးဇူးတစ်ခုမှာ ဆီလီကွန်သာမက ဆီလီကွန်နိုက်ထရိတ် (Si3N4) ကဲ့သို့သော အခြားပစ္စည်းများကိုပါ ဓာတ်တိုးနိုင်စွမ်းရှိပြီး ဆီလီကွန်နိုက်ထရစ် (Si3N4) သည် ဆီမီးကွန်ဒတ်တာကိရိယာများတွင် ထပ်လောင်းအကာအကွယ်အလွှာအဖြစ် အသုံးပြုလေ့ရှိသည်။ Free radical oxidation သည် အခြားသော ဆီလီကွန် wafers အမျိုးအစားများနှင့် နှိုင်းယှဉ်ပါက ပိုမိုသိပ်သည်းစွာ အက်တမ်ဖွဲ့စည်းမှုရှိသော (100) silicon wafers များကို oxidize လုပ်ရာတွင်လည်း ထိရောက်မှုရှိပါသည်။


free radical ဓာတ်တိုးမှုတွင် မြင့်မားသော ဓာတ်ပြုမှုနှင့် ထိန်းချုပ်ထားသော ဓာတ်တိုးမှုအခြေအနေများ ပေါင်းစပ်ခြင်းသည် တူညီမှုနှင့် သိပ်သည်းဆအတွက် သာလွန်ကောင်းမွန်သော အောက်ဆိုဒ်အလွှာကို ဖြစ်ပေါ်စေသည်။ အထူးသဖြင့် အဆင့်မြင့် semiconductor စက်ပစ္စည်းများတွင် အလွန်ယုံကြည်စိတ်ချရပြီး တာရှည်ခံသော အောက်ဆိုဒ်အလွှာများ လိုအပ်သည့် အလွှာများအတွက် အကောင်းဆုံးရွေးချယ်မှုတစ်ခုဖြစ်သည်။




Semicorex သည် အရည်အသွေးမြင့်မှုကို ပေးသည်။SiC အစိတ်အပိုင်းများပျံ့နှံ့မှုဖြစ်စဉ်များအတွက်။ သင့်တွင် စုံစမ်းမေးမြန်းမှုများ သို့မဟုတ် နောက်ထပ်အသေးစိတ်အချက်အလက်များ လိုအပ်ပါက၊ ကျွန်ုပ်တို့ထံ ဆက်သွယ်ရန် တုံ့ဆိုင်းမနေပါနှင့်။


ဖုန်း # +86-13567891907 သို့ ဆက်သွယ်နိုင်ပါသည်။

အီးမေးလ်- sales@semicorex.com



X
We use cookies to offer you a better browsing experience, analyze site traffic and personalize content. By using this site, you agree to our use of cookies. Privacy Policy
Reject Accept